表面のマクロな物性を変えるために、2種類の分子からなる混合単分子膜は非常に有力な手段であるが、XPSを用いた組成分析は以外に難しい。
難しい原因は2つあって、1つはX線強度が日によって厳密には一定ではなく、さらに光電子の遮蔽効果ため、単純にpeak ratioでは比較できない。
さらに使用しているXPSは角度分解型であるため、さらに話がややこしい。
しかし、最近光電子の強度を角度依存性を加味して積分し、この方程式の中に分子の割合をパラメータを入れてやり、その式を数値的に解くことで分子の存在比を求められるようになった。(ちょっと自慢)
次の論文のsupporting infoで詳しく述べています。(これだけでも1つの論文に出来るような気が・・・)
何はともあれ、この問題解決のためにMathematicaの使い方がよく分かるようになった。次の課題は半導体微粒子からのphoton emissionの簡単なシミュレーションです。